Proof
ISO/PRF 11505
Surface chemical analysis — General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry
Reference number
ISO/PRF 11505
Edition 2
2025-06
© ISO 2025
Proof
Indisponible en français
Projet (Edition 2, 2025)
Projet au stade approbation.
Remplacera ISO 11505:2012

Résumé

ISO 11505:2013 describes a glow discharge optical emission spectrometric (GD-OES) method for the determination of the thickness, mass per unit area and chemical composition of surface layer films.

It is limited to a description of general procedures of quantification of GD-OES and is not applicable directly for the quantification of individual materials having various thicknesses and elements to be determined.

Informations générales

  • État actuel
     : Projet
    Date de publication
     : 2025-06
    Stade
    : Epreuve envoyée au secrétariat ou mise au vote du FDIS: 8 semaines [50.20]
  • Edition
     : 2
  • Comité technique :
    ISO/TC 201/SC 8
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS mises à jour

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